年別の研究成果
年別の研究成果
フィンガープリント
Takashi Aikyoが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
- 1 類似のプロファイル
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A variability-aware adaptive test flow for test quality improvement
Shintani, M., Uezono, T., Takahashi, T., Hatayama, K., Aikyo, T., Masu, K. & Sato, T., 2014 7月 1, In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 33, 7, p. 1056-1066 11 p., 6835147.研究成果: Article › 査読
18 被引用数 (Scopus) -
Generation of diagnostic tests for tranition faults using a stuck-at ATPG tool
Higami, Y., Ohno, S., Yamaoka, H., Takahashi, H., Shimizu, Y. & Aikyo, T., 2012 4月, In: IEICE Transactions on Information and Systems. E95-D, 4, p. 1093-1100 8 p.研究成果: Article › 査読
Open Access1 被引用数 (Scopus) -
Distribution-controlled X-identification for effective reduction of launch-induced IR-drop in at-speed scan testing
Miyase, K., Noda, K., Ito, H., Hatayama, K., Aikyo, T., Yamato, Y., Furukawa, H., Wen, X. & Kajihara, S., 2011 6月, In: IEICE Transactions on Information and Systems. E94-D, 6, p. 1216-1226 11 p.研究成果: Article › 査読
Open Access -
A study of capture-safe test generation flow for at-speed testing
Miyase, K., Wen, X., Kajihara, S., Yamato, Y., Takashima, A., Furukawa, H., Noda, K., Ito, H., Hatayama, K., Aikyo, T. & Saluja, K. K., 2010 7月, In: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences. E93-A, 7, p. 1309-1318 10 p.研究成果: Article › 査読
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An adaptive test for parametric faults based on statistical timing information
Shintani, M., Uezono, T., Takahashi, T., Ueyama, H., Sato, T., Hatayama, K., Aikyo, T. & Masu, K., 2009, Proceedings of the 18th Asian Test Symposium, ATS 2009. p. 151-156 6 p. 5359374. (Proceedings of the Asian Test Symposium).研究成果: Conference contribution
1 被引用数 (Scopus)