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プロファイル
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研究成果
専門知識、名前、または所属機関で検索
Scopus著者プロファイル
史 又華
教授
Professor 教授
,
基幹理工学部
ウェブサイト
https://w-rdb.waseda.jp/html/100000830_ja.html
h-index
442
被引用数
10
h 指数
Pureの文献数とScopusの被引用数に基づいて算出されます
2001
2022
年別の研究成果
概要
フィンガープリント
ネットワーク
研究成果
(72)
類似のプロファイル
(6)
Pureに変更を加えた場合、すぐここに表示されます。
フィンガープリント
Youhua Shiが活動している研究トピックを掘り下げます。このトピックラベルは、この研究者の研究成果に基づきます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Engineering & Materials Science
Networks (circuits)
100%
High level synthesis
82%
Side channel attack
67%
Data compression
52%
Electric power utilization
50%
Adders
50%
Hardware security
47%
Computer hardware
44%
Clocks
38%
FIR filters
37%
Cryptography
35%
Built-in self test
34%
Flip flop circuits
32%
Masks
26%
Particle accelerators
25%
Monitoring
23%
Cost reduction
23%
Convolution
22%
Error detection
20%
Discrete Fourier transforms
20%
Glossaries
20%
Testing
19%
Electric potential
19%
Seed
19%
Impulse response
18%
Deep neural networks
17%
Signal processing
17%
Convolutional neural networks
16%
Shift registers
14%
System-on-chip
14%
Voltage scaling
13%
Costs
13%
Design for testability
12%
Time delay
12%
Parallel architectures
12%
Simulated annealing
12%
Neural networks
12%
Scheduling
12%
Intellectual property core
11%
Coloring
10%
Electric delay lines
10%
Detectors
10%
Crosstalk
10%
Error analysis
10%
Compaction
9%
Automatic test pattern generation
9%
Chemical activation
9%
Heuristic algorithms
9%
Field programmable gate arrays (FPGA)
9%
Fans
8%
Mathematics
Design
45%
High-level Synthesis
36%
Data Compression
35%
Chain
30%
Architecture
23%
Masking
21%
Coding
20%
Countermeasures
19%
Energy Efficient
18%
Hardware
16%
Montgomery multiplication
15%
Experimental Results
15%
Approximate Design
13%
Dictionary
13%
Power Consumption
13%
Compression
13%
Benchmark
13%
Linear Feedback Shift Register
12%
Trigger
12%
Attack
12%
Unknown
12%
Run Length
11%
Scoring
11%
Impulse Response
10%
Timing
10%
Prediction Error
10%
Flip
10%
Voltage
10%
Energy Consumption
10%
Side Channel Attacks
10%
Hardware Implementation
9%
Multiplier
8%
Internal
8%
Testing
7%
Energy Saving
7%
Output
7%
Performance
7%
Cell
7%
Test Set
6%
Chip
6%
Requirements
6%
Slice
6%
Power Saving
5%
Formulation
5%
Path
5%
Floorplanning
5%
