A 60-ns 4-Mbit CMOS DRAM with Built-In Self-Test Function

Takashi Ohsawa, Tohru Furuyama, Yohji Watanabe, Hiroto Tanaka, Kenji Natori, Satoshi Shinozaki, Takeshi Tanaka, Satoshi Yamano, Yohsei Nagahama, Natsuki Kushiyama, Kenji Tsuchida

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フィンガープリント

「A 60-ns 4-Mbit CMOS DRAM with Built-In Self-Test Function」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science