A capture-safe test generation scheme for at-speed scan testing

X. Wen^*, K. Miyase, S. Kajihara, H. Furukawa, Y. Yamato, A. Takashima, K. Noda, H. Ito, K. Hatayama, T. Aikyo, K. K. Saluja

^*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution