A nanometer beam size monitor for ATF2

Taikan Suehara*, Masahiro Oroku, Takashi Yamanaka, Hakutaro Yoda, Tomoya Nakamura, Yoshio Kamiya, Yosuke Honda, Tatsuya Kume, Toshiaki Tauchi, Tomoyuki Sanuki, Sachio Komamiya

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抄録

We developed an electron beam size monitor for nanometer scaled beam sizes. It uses a laser interference fringe for a scattering target with the electron beam. The target beam size for the monitor is 25-6000 nm to achieve and confirm the 37 nm design beam size of ATF2, a final focus test facility for the ILC. Resolution of less than 10% for the full range is shown to be realistic, with a precise fringe control system. We describe the overall design, implementation, and performance of the monitor.

本文言語English
ページ(範囲)1-8
ページ数8
ジャーナルNuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment
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1
DOI
出版ステータスPublished - 2010 4月 21
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  • 核物理学および高エネルギー物理学
  • 器械工学

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