Comprehensive perspective on the mechanism of preferred orientation in reactive-sputter-deposited nitrides

Yuya Kajikawa*, Suguru Noda, Hiroshi Komiyama

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抄録

The PO-determining mechanism of reactive-sputter-deposited TiN, AlN, and TaN was studied. Both the existing experimental results for these three materials and the existing models explaining preferred orientation were experimentally studied. The resultant data were analyzed in detail.

本文言語English
ページ(範囲)1943-1954
ページ数12
ジャーナルJournal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
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DOI
出版ステータスPublished - 2003 11月
外部発表はい

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  • 凝縮系物理学
  • 表面および界面
  • 表面、皮膜および薄膜

フィンガープリント

「Comprehensive perspective on the mechanism of preferred orientation in reactive-sputter-deposited nitrides」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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