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研究成果
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Effect of fluorine-doping on the dielectric strength of thin SiO
2
films formed by plasma-enhanced chemical vapor deposition
K. Ishii
*
, A. Takami,
Y. Ohki
*
この研究の対応する著者
先進理工学部
研究成果
:
Conference article
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査読
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Effect of fluorine-doping on the dielectric strength of thin SiO
2
films formed by plasma-enhanced chemical vapor deposition」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Engineering & Materials Science
Plasma enhanced chemical vapor deposition
100%
Fluorine
97%
Doping (additives)
78%
Photoluminescence
28%
Luminescence
25%
Synchrotron radiation
25%
Photons
20%
Relaxation
16%
Vacuum
15%
Polymers
12%
Electric potential
9%