High reliability planar-type GaInAs/InP heterostructure avalanche photodiodes

Yuichi Matsushima*, S. Akiba, Y. Kushiro

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抄録

High-temperature, long-term life tests of GaInAs/Inp heterostructure avalanche photodiodes have been carried out to establish criteria for high reliability photodetectors in 1.55 μm-wavelength optical submarine cable systems. A failure rate of less than 0.2 FIT at 10°C was predicted with an activation energy of 0.7 ev.

本文言語English
ページ(範囲)1013-1014
ページ数2
ジャーナルElectronics Letters
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出版ステータスPublished - 1988 8月 4
外部発表はい

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  • 電子工学および電気工学

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