Low temperature Au-Au flip chip bonding with VUV/O 3 treatment for 3D integration

Akiko Okada*, Masatsugu Nimura, Naoko Unami, Akitsu Shigetou, Hirokazu Noma, Katsuyuki Sakuma, Shuichi Shoji, Jun Mizuno

*この研究の対応する著者

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

抄録

This paper describes low temperature Au-Au bonding with vacuum ultraviolet (VUV) irradiation in the presence of oxygen gas. The VUV/O 3 treatment can remove organic contaminants without damages. The Au-Au bonding with VUV/O 3 treatment was achieved at 200 °C. The average shear strength was about 80 MPa per unit area. Therefore, it was proved that VUV/O 3 treatment is effective in Au-Au bonding.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルProceedings of 2012 3rd IEEE International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration, LTB-3D 2012
ページ171
ページ数1
DOI
出版ステータスPublished - 2012
イベント2012 3rd IEEE International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration, LTB-3D 2012 - Tokyo, Japan
継続期間: 2012 5月 222012 5月 23

出版物シリーズ

名前Proceedings of 2012 3rd IEEE International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration, LTB-3D 2012

Other

Other2012 3rd IEEE International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration, LTB-3D 2012
国/地域Japan
CityTokyo
Period12/5/2212/5/23

ASJC Scopus subject areas

  • コンピュータ グラフィックスおよびコンピュータ支援設計
  • コンピュータ ビジョンおよびパターン認識

フィンガープリント

「Low temperature Au-Au flip chip bonding with VUV/O 3 treatment for 3D integration」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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