Machine learning to evaluate evolvability defects: Code metrics thresholds for a given context

Naohiko Tsuda, Hironori Washizaki, Yoshiaki Fukazawa, Yuichiro Yasuda, Shunsuke Sugimura

研究成果: Conference contribution

6 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Machine learning to evaluate evolvability defects: Code metrics thresholds for a given context」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science