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STM measurements of Ni impurity effects in Bi2212
A. Nakagawa, T. Sakaidani, Y. Kiguchi, T. Uto, A. Matsuda
研究成果
:
Conference article
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査読
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「STM measurements of Ni impurity effects in Bi2212」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Physics & Astronomy
impurities
100%
temperature
44%
space transportation system
42%
switches
24%
temperature dependence
19%
electronics
15%
interactions
12%